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Bruit électromagnétique et susceptibilité des architectures électroniques en présence d'environnement thermique agressif

Diénot, Jean-Marc and Batista, Emmanuel and Gonzalo, José Bruit électromagnétique et susceptibilité des architectures électroniques en présence d'environnement thermique agressif. (2016) In: Congrés National de la Recherche en IUT CNRIUT'16, 8 June 2016 - 9 June 2016 (NANTES, France).

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Official URL: https://cnriut2016.sciencesconf.org

Abstract

Ce papier présente une synthèse d'études, principalement expérimentales, menées au LabCEEM-IUT de Tarbes autour des interactions thermique-électromagnétiques dans des architectures électroniques sensibles. Une première partie présente les développements de méthodes et de bancs associés visant à qualifier le comportement CEM : émission, immunité, de cartes électroniques en fonction de la température locale ou ambiante. Des résultats et leurs analyses sur des démonstrateurs électroniques reproduisant des commandes de type numérique et modulables (PWM) sont présentés. Cette synthèse démontre quelques conclusions importantes quant à l'origine et les conséquences de la modification des performances CEM dues à la température.

Item Type:Conference or Workshop Item (Paper)
HAL Id:hal-01546906
Audience (conference):National conference proceedings
Uncontrolled Keywords:
Institution:Université de Toulouse > Université Toulouse III - Paul Sabatier - UT3 (FRANCE)
Other partners > ALSTOM Transport (FRANCE)
Laboratory name:
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Deposited On:26 Jun 2017 08:59

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