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Étude et caractérisation d’une fonction hacheur intégrée par thermographie infrarouge

Haussener, Marion and Viviès, Noëlle and Trajin, Baptiste and Vidal, Paul-Etienne and Welemane, Hélène Étude et caractérisation d’une fonction hacheur intégrée par thermographie infrarouge. (2014) In: Symposium de Génie Electrique (SGE'14) - EF-EPF-MGE 2014, 8 July 2014 - 10 July 2014 (Cachan, France).

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Abstract

Cet article présente une méthode d’étude et de caractérisation des fonctions d’électronique de puissance basée sur la thermographie infrarouge. Cette dernière permet d’accéder, sans contact, à l’évolution temporelle du champ surfacique de température de la structure fonctionnelle, basée ici sur un IGBT Silicium et une diode SiC. Cette étude apparaît comme essentielle dans le cadre de l’intégration de puissance, lors du dimensionnement thermique au sein d’une fonction spécifique, afin de réduire le volume des fonctions et des systèmes de refroidissement associés. Le suivi thermique est ainsi réalisé jusqu’à l’obtention du régime permanent de la structure, à la fois au niveau des composants IGBT et diode mais également des fils de bonding. L’étude de la fonction hacheur 1 quadrant est menée par ailleurs pour différents points de fonctionnement afin de valider l’approche proposée. Par la suite, les sollicitations thermiques auxquelles sont soumis les éléments de la fonction sont comparées et discutées.

Item Type:Conference or Workshop Item (Paper)
Audience (conference):National conference proceedings
Uncontrolled Keywords:
Institution:Université de Toulouse > Institut National Polytechnique de Toulouse - INPT (FRANCE)
Laboratory name:
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Deposited By: Paul-Etienne Vidal
Deposited On:22 Apr 2015 08:47

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